测试设计的新语言CTL(04-100)

　　可用CTL来执行分级DFT并做为设计环境和ATE环境之间一个信息丰富的测试接口。对于测试图形再用所生成的CTL结构支持在事件之后依赖协议管理的测试方法。例如，由一个接口提供的测试图形可变化为用另一个替代接口，用称之为重新对准目标的测试器图形要领来改善ATE利用。

　　一些主要从事EDA、ATE、IP核和SoC开发的公司已为半导体业行提供CTL基DFT方案。由Synopsys、Agilent和ARM公司提供的初始CTL基方案已发布。ST公司也从事检验早期CTL基产品方案和积极地促进行业论坛工作。初始产品和工具已适用于用户，CTL被行业接受应该很快。

　　CTL基EDA工具

　　Synopsys公司推出CTL基设计生成和ATPG支持工具。它的DFT CompilerTM SOCBIST 工具能产生核生成流(为核供应商输出CTL)和SoC集成流(对于下一级集成接受DFT/ATPG任务的核级CTL)见图1。另外，通过CTL采用分级DFT消除了与很大设计有关的问题，所给出的标准DFT工具具有处理设计的能力，这在以前是不可能提供的。

　　基于CTL尚未被通过，所以Synopsys设计工具流建立在形成标准的专用设计。为了确保用户平滑的DFT流，Synopsys公司与Agilent公司紧密合作开发的测试程序生成器和相关工具，特别是Agilent SmarTest PGCTL浏览器。