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JTAG测试(05-100)

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作者: 时间:2009-02-23 来源:电子产品世界 收藏

  小变化,大影响

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/91571.htm

  准备和采用边界扫描测试方式有一个小变化,但对于加速开发,以相同的时间克服测试探针接入问题提供更大的机会。例如,器件为中心的测试能和在制作样机PCB前验证排线表列。在硬件设计过程中,设计人员也可以精确地评估测试的有效范围,若必要,也可想办法提高测试有效范围。其后,当首批板从制造返回时,可用来行使板功能,例如,可以测试功能框图(如存储器子系统和硬外设),并在软件准备好之前,集中注意任何硬件缺陷,以便修补。

  SoC受益

  灵活、以器件为中心的JTAG工具另一应用领域是流行的SoC(系统芯片)装置。SoC复杂性正在增加,特别是现在更多设计用嵌入式芯核在小的芯片面积内增加功能。JTAG为快速和精确的硬件— 软件衫词迪执砥鞯魇越涌冢峁┮桓龇奖愕墓ぞ摺K孀乓的诟嗟娜艘岩馐兜皆诳朔导屎图逼炔馐晕侍庵蠮TAG的潜能,现在市场上JTAG依从元件比两年前多很多。然而,在系统CAD排线表列中连接一个JTAG器件,测试非JTAG器件也是可能的。

  Cambridge Technology Group 在IP电话设计中成功地测试一个非JTAG依从的Ethernet 控制器。而用(开发人员用的一种新的JTAG工具),人们能够用元件制造商的数据来生成一个描述文件,能写实际的Ethernet信息包到控制器而不运行处理器。通过环回连接器读信息包返回,使能IP电话Ethernet 功能,进行全部的测试。

  较少的用户描述

  正在出现JTAG依从外设,工程师只需编写较少的用户描述。另外,一些器件没有JTAG依从形式。例如SDRAM模块和闪存器件对成本特敏感,而且更迭非常快。用高频语言(如的XJease)生成器件为中心的测试使得能快速和精确地产生器件的描述,并在以后设计中可重新使用。

  JTAG在整个产品寿命期正在变得重要。很多方面都可从JTAG中受益,这包括设计验证、样机调试、测试工程和早期样机测试以及产品测试和在现场进行板的测试、更新和维修。

  工程技术人员需要一个解决方案,用在产品寿命期的不同阶段。关键准则包括重新可用的测试描述,容易移植在不同的板上,以节省工程师时间以及测试JTAG和非JTAG器件的能力。

  下一代工具

  设计实现上述规则的下一代JTAG工具的特性包括文件锁定来保护已通过测试的程序,防止未许可或非控制存取和编辑。对于给定板或产品,封装所有文件为单个文件,这使得在不同计算机或工作站之间容易传输。允许容易地分配文件锁定测试到产品部门、制造伙伴或现场组。

是JTAG工具中最强大的一种,它也提供称之为XJRunner的单独运行环境。主要目的在于制造现场和现场支持,它共享主要工具的GUI,它能解码和解压缩分组测试文件。也能为一组板产生序列号和接口条形码读机,以支持跟踪能力或计算编程MAC地址。■(京湖)


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