计价秤SOC低成本设计方案
综观上述,下文以OIML ClassⅢ规范做电性分析。用一个20Kg通过OIML认证的Load Cell,sensitivity = 2mV/V来组装秤量15Kg分辨率为5g的计价秤,必须有以下的考虑:
本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/98808.htm电子电路要求:
RMS Noise
若Load Cell Power = 3V,信号输出最大电压为 (15Kg/20Kg)×2mV/V×3V = 4500000nV;按3000 Count的计价秤算出其最小的解析电压为4500000nV÷(3000×10) = 150nV。
故ADC的RMS Noise最大为150nV。若以1 count滚动判断,则RMS Noise必须小于150nV÷3.3 ≒ 45nV才能符合要求。
Temperature
- 温度变化对SPAN的影响︰
OIML在温度测试范围为 -10℃~+40℃,在这范围内0g ~ 500g误差不得超过±0.5e,500g~2000g误差不得超过±1e,2000g以上误差不得超过±1.5e。假设Load Cell的PLC = 0.7,因此其它的电子设备如ADC就只能分配到PLC = 0.3;所以电子设备在0g~500g最大误差为±0.15e,500g~2000g,最大误差为±0.3e,2000g以上最大误差为±0.45e。
若考虑在15~20℃环温校正,温度最大变化范围为±30℃。因此,ADC Span(Gain)的温度规格,(0.45e÷3000e) ÷30℃×1000000= 5ppm/℃。
- 温度变化对Offset漂移的影响︰
OIML对温度造成offset漂移的要求是温度变化每5℃不得超过1e。假设Load Cell的PLC = 0.7,其它电子设备,只能分配到0.3;也就是电子设备温度变化每5℃不得超过0.3e。
因此ADC Offset温度漂移规格,1000000×(0.3e÷3000e) ÷5℃ = 20ppm/℃,也就是4500000nV×20ppm/℃ = 90nV/℃。
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