小电压电源噪声的测量
当今的电子产品,信号速度越来越快,集成电路芯片的供电电压也越来越小,90年代芯片的供电通常是5V和3.3V,而现在,高速IC的供电通常为2.5V,1.8V或1.5V等等,供电电压越小,对电压的波动要求也就越高。对于这类电压较低的直流电源的电压测试简称电源噪声测试。
本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/123859.htm影响电源噪声测试结果的主要因素
影响电源噪声测试结果的主要因素有:在电源噪声测试中,通常有如下几个问题导致测量不准确。
是否需要增加20MHz的滤波
过去我们在进行电源纹波测试过程中,由于电源导致的噪声频率通常比较低,因此通常默认需要加20MHz的滤波,目的是滤除高于20MHz以上的噪声,来验证主要由于电源因素引起的噪声大小。但是在实际情况下,往往还需要验证在所有频段上电源上的噪声情况如何,因此我们需要提前弄清楚是否需要增加20MHz的滤波。如下图所示为某DDR2/DDR3对电源纹波的要求:
![](http://m.amcfsurvey.com/editerupload/201109/8c897f3b70a4d50f068c4489ebd32d23.jpg)
量化误差
示波器存在量化误差,通常实时示波器的ADC为8位,把模拟信号转化为2的8次方(即256个)量化的级别,当显示的波形只占屏幕很小一部分时,则增大了量化的间隔,减小了精度,准确的测量需要调节示波器的垂直刻度(必要时使用可变增益),尽量让波形占满屏幕,充分利用ADC的垂直动态范围。在图3中蓝色波形信号(C3)的垂直刻度是红色波形(C2)四分之一,对两个波形的上升沿进行放大(F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)),然后对放大的波形作长余辉显示,可以看到,右上部分的波形F1有较多的阶梯(即量化级别),而右下部分波形F2的阶梯较少(即量化级别更少)。如果对C2和C3两个波形测量一些垂直或水平参数,可以发现占满屏幕的信号C2的测量参数统计值的标准偏差小于后者的。说明了前者测量结果的一致性和准确性。
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