新闻中心

EEPW首页>EDA/PCB>设计应用> 加速FPGA系统实时调试技术

加速FPGA系统实时调试技术

作者: 时间:2012-10-24 来源:网络 收藏

第4步. 进行测量

使用Bank(组)列表下拉菜单,选择想要测量的组。一旦选择了组,View会通过JTAG接口与通信,并配置测试内核,以便选择希望的组。

选择希望测量的信号组

View还将这些通道名称通过对TLA系列逻辑分析仪的控制进行自动分配,从而可以简便地理解测量结果。为测量不同的一套内部信号,用户只需选择不同的信号组(参见图7)。全功能TLA系列逻辑分析仪会自动把这些FPGA信号与中的其它信号关联起来(参见图8)。

TLA系列逻辑分析仪自动完成和简化了许多测量

在TLA逻辑分析仪中,针对设计人员关心的各种时间信息,提供了业内独有的定时参数自动测量功能,通过鼠标简单的拖放操作,能够得到周期、频率、占空比、脉冲宽度、通道/通

道延迟、边沿计数、周期计数、违规计数、周期抖动、以及周期间抖动等信息。

小结

通过在FPGA和设计与应用阶段认真考虑调试需求,可以选择相应的调试方法,既简化调试流程,也有助于节约时间。嵌入式逻辑分析仪和外部逻辑分析仪这两种方法各有优缺点,但FPGAView等新方法进一步提高了外部逻辑分析仪方法的吸引力。能够快速方便地移动探点,而不需重新汇编设计,同时能够把内部FPGA信号活动与电路板级信号关联起来,直接决定着能否满足产品开发周期的要求。


上一页 1 2 3 4 5 下一页

评论


相关推荐

技术专区

关闭