BCI法测试电流注入法

　　真正流过的电流由电流注入处装置的共模阻抗决定，而在低频下这几乎完全由EUT和电缆装置另一端所连接的相关设备对地的阻抗决定。一旦电缆长度达到四分之一波长，阻抗的变化就变得十分重要，它可能降低测试的可重复性。此外，由于电流注入探头会带来损耗，因而需要较大的驱动能力才能在BUT上建立起合理的干扰水平。尽管如此，BCI法还是有一个很大的优点，那就是其非侵入性，因为探头可以简单地夹在任何直径不超过其最大可接受直径的电缆上，面不需进行任何直接的电缆导体连接，也不会影响电缆所连接的工作电路。BCI测试法应在屏蔽室内进行，以获得正确的测试结果。一般BCI测试法所适用的频率范围为1～400MHz（或延伸至1000MHz）。BCI法测试配置如图所示。

　　图 BCI法测试配置图

　　1一被测设各；2一被测设各的测试线束；3一负载仿真器，4一被测设备仿真与监视系统；

　　5一电源供应器；6一人造电源网络；7一光纤；8一射频仪器；9一射频监视夹具；

　　10一射频注人夹具；11一接地平面测试桌；12一绝缘物，13一屏蔽室