为存储器测试开发低成本的解决方案
存储器的功能测试由数字测试设备执行的一系列读写操作构成。每次执行读操作之后，测试系统将读取的数据与期望值做比较。测试数据线不需要重复通过存储器中的每个地址。例如，一个4位存储器只需要4次写和读操作，以完全验证数据线并核查粘着性(stuck-at)故障。通过选择单一地址，初始化时存储器各位均置为“0”，采用“进位置1”模式写入数据，工程师就可以高效地测试数据线。图2所示为4位存储器件的“进位置1”模式。测试的第一步是把“1000”写入期望的位置，然后，对该地址进行初始化读操作。如果存储器返回的数据与所写入的数据相匹配，那么就表明该数据线功能正确。采用不同的测试模式，工程师可通过类似步骤验证地址线和每一个存储位。本文引用地址：//m.amcfsurvey.com/article/202576.htm
尽管一些数字仪器可以执行这种简单的测试，但要测试更复杂的存储器件则需要成百上千的读写操作。如果用软件执行比较读入数据与每次读操作后的期望响应，那么测试时间可能会成指数级增长。
为了将使空闲时间减到最小，先进的测试设备支持基于每个周期和每个通道的双向通信。先进的测试仪器可以在一个时钟周期内从存储器读取并比较数据，而无需让存储器件停下来重新配置，或把数据传输到PC上进行比较。随着基于FPGA的仪器的应用增多，除了0和1之外，新型和现有硬件还支持逻辑状态的测量。为了验证来自存储器的数据，测试向量利用特定的状态来定义何时数字仪器应该主动接收数据以及期望响应值是什么。例如，国家仪器公司的PXI- 6552数字波形发生器/分析仪利用能支持6个不同通道状态的FPGA，根据测试向量中的数据重新配置仪器的行为。
图2. “进位置1”模式。
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