为存储器测试开发低成本的解决方案
随着存储器技术的发展，改变测试模式和存储器芯片的测试方法变得日益重要。通过采用可置于桌面的基于PC的测试仪器，工程师就能够获得所需要的灵活性和用户定制特性。本文引用地址：//m.amcfsurvey.com/article/202576.htm
超越功能测试
在一项设计成功通过所有功能测试之后，工程师能够获得被测器件更详细的特性。公共测试包括描述存取时间和电器规范的特征，例如电压范围。采用模块化测试平台(例如PXI)的工程师可以扩展他们的测试系统，以包括更多的仪器，如数字化仪、数字万用表和RF仪器。PXI还提供内置功能，例如为仪器间的相位一致性提供定时和同步功能，并具有构建高通道数测试系统的能力。
采用数字仪器，如NI 6552数字波形发生器/分析仪，工程师可执行存储器件全部特征的提取，而无需增加额外的测试设备。采用NI LabVIEW这样的软件，工程师能够创建一个测试，扫描用于与存储器件通信的电平以验证最小工作电压。图3所示在LabVIEW中这种测试的结果。其中，水平轴表示被测电压，垂直轴表示接收到的错误位百分比。从图中很容易推出存储器件的最小工作电压为2.43V。
图3.存储器件最小工作电压的特征。
如果存储器件被嵌入较大的数字装置之中，就需要对成品进行额外的测试。工程师通过复用进行验证设计和数字存储器件的相同测试设备，可以降低测试成本。因为大多数数字装置都有相同的基本测试需求、获取或生成用于分析的测试向量，因而工程师可重新配置硬件和用户接口，以便在单一平台上创建广泛的虚拟仪器。
随着开发新技术的压力日益增大，工程师面临优化其测试成本和测试时间的挑战。基于PC和FPGA技术的、低成本的商用测试设备，已经帮助工程师实现了在桌面上执行强大的、混合信号原型测试。利用软件可重配置的硬件，工程师还可以在一台基于PC的平台上开发多种定制测试系统。此外，采用虚拟仪器方法，工程师可以通过软件定义通用测量硬件的功能，因而测试系统就成为验证存储器和其它混合信号器件设计的重要策略。
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