LTE TDD测试介绍

LTE的测试首先需要模拟LTE射频信号，并且研究其统计特性。对于LTE下行，研究人员可以从WiMAX和WLAN等技术中参考得到OFDMA的射频特性。但是对于上行，LTE上行使用的SC-FDMA技术在其他标准中并没有使用。因此上行信号特性需要进行特别的研究。LTE信号模拟中的一些通常设置包括频率、带宽、LTE信号包含资源块的数目、天线配置、参考信号序列配置、下行同步信道配置、循环前缀长度、用户数据和调制方式的分配和L1/L2控制信道的配置的等参数。

选件RS SMx-K55用于R S公司的信号源，诸如RS SMU200A, RS SMJ100A 和 RS SMATE200A就可以按照TS36.211标准规定产生LTE FDD 和 LTETDD上下行射频信号，用于元器件性能测试以及基站和移动终端的接收机测试。下图显示了LTETDD信号的设置以及图形显示资源分配图。

此外RS还提供了高性能的双通道基带信号源AMU200A以及AFQ100A，加上AMU-K55或者AFQ-K255选件后，就可以模拟LTE的基带信号，用于LTE研发早期基带信号的模拟。而通过一款RS提供的EX-IQ-BOX，用户可以产生适应自己需要的数字基带信号格式。

这些仪表及其选件可提供信道编码，多达四路发射天线的 MIMO 预编码以及2x2 MIMO 的实时衰落模拟等功能。该软件选件直接安装在仪器上，给用户提供了多种配置的可能性，用户不仅可调用预先定义好的测试场景，快速的进行测试设置；而且还可以按照自己的需要灵活设置各种参数进行定制测试：例如参考符号，控制信道，同步信道及数据信道的参数，此外，也可独立配置各个子帧。

目前RS的LTE信号模拟方案完全符合3GPP V8.40标准，包括PRACH、探测参考信号、上行链路的PUCCH编码，下行链路的PHICH和PCFICH编码，同时包含36.141标准规定的E-Test模型信道。

LTE信号分析

其次在LTE信号的射频分析方面，由于LTE信号采用了新的接入方式OFDMA，信号带宽最高可达20MHZ，这些对于信号的频域分析和调制域分析都提出了更高的要求。RS FSQ 和 RS FSG 信号分析仪能分析3GPP LTE 基站或者移动电话的发射机模块。信号分析选件 RS FSQ-K101 和RS FSQ-K105支持LTE FDD和TDD射频调制信号的测量，并以图形或表格显示结果：诸如 EVM、频率误差、频谱平坦度、I/Q 偏移、眼图、星座图及群时延等测量结果。选件 RS FSQ-K100和RS FSQ-K104可用于分析3GPP LTE下行信号， 跟上行信号选件类似，该选件能在频域，时域及调制域对标准规定的所有信道带宽的3GPP LTE FDD和TDD信号进行测量。

如需测量LTE基带信号，不管是平衡还是非平衡的，都可使用RS FSQ 的模拟(RS FSQ-B71)和数字 (RS FSQ-B17) 基带输入选件来完成。同时RS也提供了一款EX-IQ-BOX可以适应用户自己的数字基带格式，通过和FSQ上的B17接口一起使用，可以分析LTE数字基带信号。

此外如果想对OFDM信号进行分析的话，RS在高端信号分析仪FSQ上开发了FSQ-K96选件，这可以满足LTE早期研发和对任意OFDM信号进行分析的需求。