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手机芯片UV胶绑定可靠性分析

作者: 时间:2009-07-23 来源:网络 收藏

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/261236.htm


A2板切片后,主芯片焊点U1在PCB侧焊盘处出现局部开裂现象,如图5所示。


B1板切片后,主芯片焊点A17在PCB焊盘下方有开裂现象,如图6所示。


B2板切片后,主芯片焊点U17在PCB焊盘与锡球之间有开裂现象,如图7所示。


C1板切片后,主芯片焊点U1在PCB焊盘和锡球之间有开裂现象,如图8所示。


C1板切片后,主芯片焊点U1在PCB焊盘和锡球之间有开裂现象,如图8所示。


返修工艺对比

对底部填充和UV胶绑定工艺手机主板的返修情况及工艺成本进行比较(见表2),UV胶绑定芯片返修容易且没有报废。



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