威盛电子对高速串行数据进性测试

俄勒冈州比佛顿，2005年9月29日——世界领先的测试，测量和监测仪器供应商泰克公 司（NYSE：TEK），今天宣布芯片技术和平台解决方案的领先开发商威盛电子份有限 公司已经选择泰克的数字系统分析工具来开发其基于串行数据标准（例如第二代 PCI-Express接口和SATA III）的数字产品。完整的泰克解决方案由TLA7000逻辑分析 仪 和超高性能TDS6000示波器组成，这一方案将使威盛的工程师们更圆满完成设计和验证 任务，进行全面的协同操作性测试工作，并同时对基于PCI-Express接口和SATA III规 格的数字产品执行一致性测试。

因为其测试的需要，威盛选择了新的泰克TLA7012和TLA7016逻辑分析仪，12GHz的 TDS6124C示波器和世界上最快的实时示波器－15 GHz的 TDS6154C。TLA7000系列逻辑 分 析仪包括了iLink(tm)工具包，这一工具完美地把逻辑分析器和一个示波器整合到一 起，从而提供对数字和模拟信号的实时观察，并从根本上加快多路信号调试的工作。

“威盛科技通过对未来科技发展的预判以及率先应用这些技术来保持其在行业中的领 先 地位，这些技术被包括在分立硅元件应用或在大范围内整合到核心逻辑芯片上。” 威 盛电子股份有限公司的产品营销副总裁林哲伟先生说，“高速的串行数据总线例如第 二 代PCI-Express接口和SATA III为设计和一致性测量的提出了新的挑战。泰克的 TLA7000 逻辑分析仪和TDS6000示波器的结合支持了我们在各个阶段的测量要求，这些阶段包括 设计、验证、一致性测量和调试等，并且能使我们的工程师们更具信心地对高速串行 设计进行测试和测量。”
“威盛电子有着著名的创新史，我们很高兴他们再次选择泰克的测试解决方案来动
他 们下一代产品的研发，”泰克亚太区销售和营运副总裁Bob
Agnes说，“这些超高性能 的泰克仪器将使威盛的工程师们迅速又高效的解决在验证和一致性测试中遇到的问 题， 在确保世界级水平的产品品质和可靠性的同时，减少产品推向市场的时间。”