新闻中心

EEPW首页>测试测量>业界动态> NanoPhotonics向ISMI出货450mm晶圆检测设备

NanoPhotonics向ISMI出货450mm晶圆检测设备

作者: 时间:2009-02-20 来源:SEMI 收藏
据Semiconductor International网站报道,签订合约,将向出货两台用于450mm的缺陷检测设备。

这两台设备分别是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,两台设备将和450mm设备前端模块一同集成于450mm协同测试试验台。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/91436.htm


评论


相关推荐

技术专区

关闭