TI将展示超高速USB 3.0传输芯片

　　Texas Instruments将在近日在东京举行的USBDevelopers Conference上展示5Gbit/s传输测试芯片。据悉该技术可为新兴的USB3.0接口技术提高速度。

　　该测试芯片专为USB3.0设计，可在超过4米的USB 3.0传输线上驱动及接收信号，并保持数据的完整性。