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【应用技术】如何减少HBLED测试误差
多个HBLED器件的测试 老炼(burn-in)等应用需要对多个器件同时进行测量。 结的自加热[1]是HBLED生产测试中最主要的误差源之一。随着结温不断升高,电压降,或者更重要的是,漏电流,也随之上升,因此如何最大限度缩短测试时间就极为重要。智能测试仪器可以简化对器件的配置,并缩短其上升时间(该时间是指测试开始前任何电路电容实现稳定的时间)以及积分时间(该量决定了A-D转换器[2]采集输入信号的时间长短)。新型的SMU仪器[3],例如吉时利 2651A,具有A-D转换器,这些器件的采样速度高达ms/点,比高性能的积分式A-D转换器快50倍。于是,更快的测量速度可以进一步缩短总的测试时间。 脉冲测量技术的使用可以最大限度缩短测试时间和结的自加热现象。当前具备高脉冲宽度分辨率的SMU可以精确地控制对器件施加功率的时间长短。脉冲化的工作也可以让这些仪器的输出电流远超出其DC输出能力。 欲了解HBLED测试程序描述文本代码的示例,可以下载2639[4]号吉时利应用指南,高亮度LED的高速测试。
关键词: 应用技术 如何 减少 HBLED 测试 误差
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