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利用APTIX MP3C和Spartan-IIE FPGA实现数据系统的
随着数字电路设计的规模及复杂程度的提高,对其进行测试试验证所花费的时间和费用也随之提高,所以减少测试验证成本是当前数字电路设计的关键。
关键字:
Spartan-IIE
APTIX
MP3C
FPGA
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