- 借助罗德与施瓦茨公司基于PXI的生产测试平台R&S CompactTSVP的新选件，即使在需要进行大量数据运算的领域，快速数字功能性测试也可以实现。全新的高速数字测试模块R&S TS-PHDT支持高达40MHz的数据速率以及1.5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。 R&S TS PHDT，这个小
- 关键字：嵌入式系统单片机R&SCompactTSVPPXI嵌入式
compacttsvp介绍
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