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GX5295数字IO&PMU功能在半导体Continuity 测试中的应用

  • 　　本文以Texas Instruments 20针TSSOP封装的SN74HC273为例介绍使用GX5295的直流参数测量单元(PMU)对半导体器件进行Continuity测试。　　关键词：　　GX5295, PMU, Parametric, Continuity Test, Semiconductor Test, ATEasy　　Introduction　　在测试半导体器件的功能之前，通常需要验证器件的结构完整性
  • 关键字：Texas InstrumentsGX5295
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gx5295介绍

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