- 张桂玉，任希庆（安普德（天津）科技股份有限公司，天津 300384） 摘 要：J750测试系统是一种超大规模逻辑及存储器件测试系统。本文通过一系列的数据采集，同时应用统计学的分析方法，借助于Minitab统计分析软件，分别对采集到的数据进行了分析，从而得到测试系统的一些性能参数，进而可以分析出测试系统的稳定性。通过这一系列分析后，可以找到影响生产率的各种因素，大大提高测试系统的工作效率，缩短产品的复测时间，提高良品率，提高测试的准确率，进而提高生产率。 关键词：Minitab；J750；测试系统；
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