首页 资讯 商机 下载 拆解 高校 招聘 杂志 会展 EETV 百科 问答 电路图 工程师手册 Datasheet 100例 活动中心 E周刊阅读 样片申请
EEPW首页>> 主题列表>> pcie测试

加快洞见能力等多重需求推动,全新裕度测试解决方案重塑PCIe测试

  • 自从PCIe 1.0规范以来,在不到20年里,业界已经为迎接PCIe Gen 6.0规范作好准备。由于每一代新标准较上一代的数据速率都会翻一番,PCIe Gen 6.0的速度要比2003年问世的最初PCIe Gen 1.0规范快25倍。数据速率每三年翻一番,给负责物理层性能的验证工程师带来了无尽的挑战,包括PHY、芯片、插件和系统,因为当前市场上的测试设备并不能完全满足所有这些器件的测试需求。关键电气验证设备的性能不断提高,比如示波器和误码率测试仪(BERT),尽管可以解决绝大部分挑战,但性能的提高也影响
  • 关键字:全新裕度测试PCIe测试
共1条 1/11

pcie测试介绍

您好,目前还没有人创建词条pcie测试!
欢迎您创建该词条,阐述对pcie测试的理解,并与今后在此搜索pcie测试的朋友们分享。 创建词条

热门主题

关于我们- 广告服务- 企业会员服务- 网站地图- 联系我们- 征稿- 友情链接- 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473