- 应用材料公司今日发布了其市场领先的SEMVision™系列缺陷检测和分类技术最新产品，助力尖端存储和逻辑芯片的制造商提升生产力。最新的SEMVision G7系统，是目前市面上唯一具有高分辨率缺陷成像，以及经生产验证、具有先进机器学习智能的DR-SEM*系统。它有助于芯片制造商更快对缺陷进行分类，找出根本原因并解决良率问题。 “由于将日趋复杂的新设计投入生产的难度越来越大，芯片制造商正在寻找加快产品面市和实现最优良率的方法。”应用材料公司副总裁兼工艺诊断及控制事业部总经理Ofer
- 关键字：应用材料SEMVision
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