基于FPGA的抗SEU存储器的设计实现,O 引言随着我国航空航天事业的迅猛发展，卫星的应用越来越广泛。然而，太空环境复杂多变，其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子，它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应。辐射效应对电子器件的影响不可忽视
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抗SEU存储器的FPGA设计实现,O 引言 随着我国航空航天事业的迅猛发展，卫星的应用越来越广泛。然而，太空环境复杂多变，其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子，它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应。辐射效应对电子器件的影响不可
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抗SEU存储器的设计的FPGA实现, O 引言 随着我国航空航天事业的迅猛发展，卫星的应用越来越广泛。然而，太空环境复杂多变，其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子，它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应。辐射效应对电子器件的影响
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引言 随着工艺技术的迅速发展，创新进一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具优势。然而，技术的发展也突出了以前可以忽略的某些效应，例如，单事件干扰(SEU)导致的软误码影响越来越大。通过仔细的IC设计，65nm节点单位比特的软误码率有所下降，但是每一工艺节点的逻辑容量在不断翻倍，配置RAM(CRAM)比特数量也随之增长。 现在的FPGA容量越来越大，功能越来越强，逐渐担负起系统的核心功能，例如数据通路等；因此，设计人员能够将系统集成在一片可编程芯片中。这些发
关键字：SEU 干扰率
seu介绍
SEU是Single event upset的缩写，中文译为单粒子翻转。是SEE的一种表现形式。 Single event upset (SEU) is defined by NASA as "radiation-inducederrors in microelectronic circuits caused when charged particles(usually from the rad [
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