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破解SiC、GaN栅极动态测试难题的魔法棒 — 光隔离探头

SiC、GaN 作为最新一代功率半导体器件具有远优于传统 Si 器件的特性，能够使得功率变换器获得更高的效率、更高的功率密度和更低的系统成本。但同时，SiC、GaN极快的开关速度也给工程师带来了使用和测量的挑战，稍有不慎就无法获得正确的波形，从而严重影响到器件评估的准确、电路设计的性能和安全、项目完成的速度。SiC、GaN动态特性测量中，最难的部分就是对半桥电路中上桥臂器件驱动电压VGS的测量，包括两个部分：开关过程和Crosstalk。此时是无法使用无源探头进行测量的，这会导致设备和人员危险，同时还会由
关键字：SiC GaN 栅极动态测试光隔离探头

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光隔离探头介绍

光隔离探头，英文名Optical-fiber Isolated Probe，是示波器的一种测量探头。在测试测量领域，测试探头前端所获取的信号一般经过电缆传输至后端的测试设备，这种经过电缆传输的方式，存在如下缺点：1.不绝缘，在高压场合没有安全性，测试点与测试设备之间不能相互电气隔离；2.线缆存在寄生电容、电感、电阻等特性，带宽受到限制；3.难以同时满足高压、低压、高带宽及信号完整性指标；4.对高压 [ 查看详细]

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