- 本文对嵌入式存储器的测试及可测性设计进行研究总结，为我国存储器测试的研究以及集成电路测试产业的发展奠定坚实的技术基础。
- 关键字：嵌入式存储器测试向量可测性
- 高频锁相环的可测性设计可测性设计（Design for Test，DFT）最早用于数字电路设计。随着模拟电路的发展和芯片 集 ...
- 关键字：高频锁相环可测性
可测性介绍
您好，目前还没有人创建词条可测性!
欢迎您创建该词条，阐述对可测性的理解，并与今后在此搜索可测性的朋友们分享。
创建词条
关于我们-
广告服务-
企业会员服务-
网站地图-
联系我们-
征稿-
友情链接-
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
