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存储测试文章进入存储测试技术社区

基于FPGA软核的参数可变的压力测试系统设计

  • 在爆炸场压力测试中,冲击波超压峰值随着弹药的当量和到爆心距离的变化十分显著。传统测试系统的测试参数难以更改,灵活性差,往往需要重新设计电路以满足不同测试要求。为了提高测试系统的灵活性及电路复用性,设计了基于可配置FPGA软核的测试系统。通过调用并修改可移植软核,以实现系统的快速设计,通过灵活设置测试参数完成不同测试任务。对系统准确性进行了验证,应用到静爆试验中,有效获得了压力数据。
  • 关键字:FPGA软核冲击波存储测试

存储测试系统的USB接口设计

  • 摘要:针对存储测试系统的高速数据传输需求,设计了以单片机和FT245R为核心器件的USB接口电路,替代了传统的并行/串行接口。设计的USB接口支持USB 2.0协议,具有体积小、通用性好、操作简单、使用方便等特点,数据
  • 关键字:USB存储测试系统接口设计

基于FPGA的存储测试系统

  • 针对某些特殊的测试试验要求测试系统高性能、微体积、低功耗,在存储测试理论基础上,进行了动态存储测试系...
  • 关键字:FPGA存储测试采样频率

基于FPGA的存储测试系统的设计

  • 摘要:针对某些特殊的测试试验要求测试系统高性能、微体积、低功耗,在存储测试理论基础上,进行了动态存储测试系统的FPGA设计。介绍了该系统的组成,对控制模块进行了详细设计。针对测试环境的多样性设计了采样策略
  • 关键字:FPGA存储测试系统

基于CPLD的多次重触发存储测试系统设计

  • 摘要:提出一种基于CPLD的多次重触发存储测试系统设计方案,详细介绍系统硬件设计以及CPLD内部控制原理,并对CPLD控制电路仿真。该系统体积小、功耗低,能够实时记录多次重触发信号,每次信号记录均有负延迟,读取出
  • 关键字:CPLD触发存储测试系统设计
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存储测试介绍

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