首页 资讯 商机 下载 拆解 高校 招聘 杂志 会展 EETV 百科 问答 电路图 工程师手册 Datasheet 100例 活动中心 E周刊阅读 样片申请
EEPW首页>> 主题列表>> 损坏过应力分析

损坏过应力分析文章进入损坏过应力分析技术社区

你的电源IC是如何失效的?电源IC损坏过应力分析

  • 在我们项目开发和产品量产过程中总是会出现一些 IC 损坏的现象,通常要想找出这些 IC损坏的根本原因并不总是很容易。有些偶发性的损坏很难被重现,这时的难度就会更大。而且有些时候 IC 的失效表现简直就是破坏性的,可能IC已经被烧得一塌糊涂,即使求助IC原厂分析,往往也不一定能找出失效的根本原因,出现这种情况,作为工程师的你估计头皮要感觉到阵阵发麻了。电源 IC 的失效常常是其输入端受到电气过应力( EOS)的结果。在很多情况下,器件失效的原因都是输入电压太高了。本文对电源 IC 输入端 ESD
  • 关键字:电源IC损坏过应力分析
共1条 1/11

损坏过应力分析介绍

您好,目前还没有人创建词条损坏过应力分析!
欢迎您创建该词条,阐述对损坏过应力分析的理解,并与今后在此搜索损坏过应力分析的朋友们分享。 创建词条

热门主题

关于我们- 广告服务- 企业会员服务- 网站地图- 联系我们- 征稿- 友情链接- 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473