- 存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里，测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件（DUT）数量从32到64到128不断
- 关键字：探针卡测试流程
- 市场研究公司VLSI Research的报告指出，2008年全球经济衰退对用于晶圆测试的探针卡市场造成了严重的影响，2009年市场销售收入将进一步下滑。2008年探针卡市场收入减少26.9%，而IC市场收入仅下滑4.2%。市场虚弱的主要原因是存储制造商大幅减少支出。预计2009年探针卡市场将进一步下滑24.5%，降至7.7亿美元。
- 关键字：晶圆探针卡IC
- 据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针卡销售收入将达到14.1亿美元，比2007年的13.6亿美元增长3.4%。 在2007年，美国的FormFactor公司和日本的Micronics Japan公司以及日本的JEM公司继续保持晶圆探针卡市场的领先地位。韩国的Phicom公司的排
- 关键字：晶圆探针卡半导体集成电路
- 美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前宣布授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司为吉时利半导体参数测试仪制造高性能参数测试探针卡。FormFactor公司所提供的探针卡将应用于吉时利S600系列参数测试仪，进行测量超低直流电流，以及对接触半导体晶圆的PIN脚进行标准直流参数测试。晶圆制造商和代工厂可以采用S600系列测试仪对用于组装和封装的晶圆进行合格性检测或工艺监测。 FormFactor公司Takumi探针卡非常适合于吉时利最先进的参数测试仪——S680型直流/射频参数测
- 关键字：探针卡吉时利FormFactor测试测量
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