- 对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。随着业
- 关键字：IC芯片晶圆级RF测试
晶圆级rf测试介绍
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