首页 资讯 商机 下载 拆解 高校 招聘 杂志 会展 EETV 百科 问答 电路图 工程师手册 Datasheet 100例 活动中心 E周刊阅读 样片申请
EEPW首页>> 主题列表>> 晶圆级探针测试测量

晶圆级探针测试测量文章进入晶圆级探针测试测量技术社区

矽电-泰克晶圆级探针测试测量联合实验室正式成立

  • 中国深圳 2023年6月15日 – 泰克科技(中国)有限公司和矽电半导体设备(深圳)股份有限公司战略合作发布会在深圳创投大厦矽电总部召开,同一时间,泰克(中国)和矽电半导体宣布测试测量联合实验室正式成立。毫无疑问,由于双碳目标及绿色生态的政策倾向,ESG浪潮来袭,以SiC(碳化硅)和GaN(氮化镓)为代表的第三代半导体已经成为高性能器件厂商的优先选择,功率器件也成为中国半导体市场的新亮点。市场调研机构Yole最新研究报告指出,全球功率半导体器件市场将从2020年的175亿美元增长至2026年的2
  • 关键字:矽电泰克晶圆级探针测试测量
共1条 1/11

晶圆级探针测试测量介绍

您好,目前还没有人创建词条晶圆级探针测试测量!
欢迎您创建该词条,阐述对晶圆级探针测试测量的理解,并与今后在此搜索晶圆级探针测试测量的朋友们分享。 创建词条

热门主题

关于我们- 广告服务- 企业会员服务- 网站地图- 联系我们- 征稿- 友情链接- 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473