首页 资讯 商机 下载 拆解 高校 招聘 杂志 会展 EETV 百科 问答 电路图 工程师手册 Datasheet 100例 活动中心 E周刊阅读 样片申请
EEPW首页>> 主题列表>> 碳化硅jfets原子探针层析成像

碳化硅jfets原子探针层析成像文章进入碳化硅jfets原子探针层析成像技术社区

TechInsights对于“碳化硅JFETs原子探针层析成像”的探讨

  • 去年,TechInsights通过一系列博客展示了电气特性的力量,对于揭示碳化硅器件规格书远远不能提供的碳化硅器件特性。分析半导体掺杂的技术多种多样,例如:· 扫描式电容显微镜(SCM ),我们经常将它包含在我们的功耗报告中,这为我们提供了大面积的相对掺杂物分析。· 扫描式电阻测定(SRP)和二次离子质谱(SIMS)可以给出定量分析,但是尺
  • 关键字:TechInsights碳化硅JFETs原子探针层析成像
共1条 1/11

碳化硅jfets原子探针层析成像介绍

您好,目前还没有人创建词条碳化硅jfets原子探针层析成像!
欢迎您创建该词条,阐述对碳化硅jfets原子探针层析成像的理解,并与今后在此搜索碳化硅jfets原子探针层析成像的朋友们分享。 创建词条

热门主题

关于我们- 广告服务- 企业会员服务- 网站地图- 联系我们- 征稿- 友情链接- 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473