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快连接式电磁继电器结构可靠性的研究与改进

• 本文结合家电产品应用的快连接式电磁继电器，采用解剖、模拟、对比等分析方法，对释放电压偏低的电磁继电器进行失效原因分析。结果表明，快连接插片受到外力冲击变形，使快连接插片与基座铆接点固定柱受到破坏，继电器静簧片向动簧片反方向移动，GAP(触点间隙)变大，FOLLOW(超行程)变小，导致释放电压低。通过对快连接式继电器的研究，提出两种改善方案：1)在快连接式插片根部增加挡块;2)在快连接片的静簧片上增加挡钉，可提高快连接式继电器的结构强度，提高其使用可靠性。
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