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一种采用分离栅极闪存单元实现可编程逻辑阵列的新型测试结构
上传用户:
焊锡
上传日期:2014-03-31
文件类型:PDF
文件大小:2892.84K
资料积分:3分
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资料介绍
大多数可编程阵列使用易失性存储器SRAM作为配置数据存储元件。最近,有人尝试使用非易失性存储器(NVM)替代SRAM。基于NVM的FPGA是嵌入式IP应用的理想选择,其架构和许多增强功能可改善芯片集成度、IP使用率和测试时间。Robert Lipp等人提出了一种采用浅沟槽隔离(STI)工艺的高压三阱EEPROM检测方案。为了能及时编程,使用此方法的开关器件需要
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