艾睿光电红外热像仪，让缺陷无处可逃（短波）

应用背景
·高于绝对温度零度的物体都可以辐射红外线，当物体内部存在缺陷时，会使物体的热传导发生改变，导致物体表面温度场的分布发生变化。红外热像仪可以检测出被测目标表面温度分布的变化，将这种变化以红外热图序列的形式表现出来。通过对红外热图序列的处理来探测缺陷的信息。可实现对金属、非金属及复合材料中存在的裂纹、脱粘等缺陷进行检测，具有非接触、检测面积大、速度快、在线检测等优点。
·短波红外成像主要基于目标反射光成像原理，其成像与可见光灰度图像特征相似，成像对比度高，目标细节表达清晰，在目标识别方面，短波红外成像是热成像技术的重要补充；在0.9～1.7μm波段内，激光光源技术成熟（1.06μm、1.55μm)，这使得短波红外成像在隐秘主动成像应用中具有显著的对比优势。