嵌入式系统-测试和测量挑战

在本入门手册中，我们详细考察了嵌入式系统的各个要素，描述了其实现中出现的部分挑战，而新一代测试测量工具将能够解决这些挑战。

入门手册
嵌入式系统：测试和测量挑战
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嵌入式系统：
测试和测量挑战




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嵌入式系统：测试和测量挑战
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目录
嵌入式系统概述3-6 低速串行总线26-30
行业推动因素3 测量挑战29
市场趋势和推动因素4 触发与搜索30
工程设计需求和响应4 小结30
嵌入式设计的各种单元5
高速串行总线31-36
嵌入式设计的关键测试挑战6
高速串行标准32
微处理器和微型控制器7-11
测量挑战33
调试嵌入式处理器7 小结36
高级语言源代码支持8
电源37-43
符号支持9
性能分析支持9 开关式电源基础知识37
最坏情况执行时间支持10 检定SMPS(开关式电源)性能38
电气特点38
现场可编程门阵列(FPGAs)12-17