资料介绍
研究人员今天必须衡量涉及非常小的电流和电压的材料和设备的特性。示例包括电阻测量和-V 特性的纳米线、 纳米管、 半导体、 金属、 超导体和绝缘材料。在许多这些应用程序,应用的权力必须保持低,避免加热下测试 (DUT) 的设备,因为 (1) 许多 DUTs 非常小,其温度可以大大提出的少量的应用的能力和 (2) 许多 DUTs 正在检测在温度接近绝对零度,甚至毫度加热的是不能接受。即使应用的电源不是问题,测量的电压或电流可能是由于极低或高的阻力很小。
WHITE
PA P E R
New Instruments Can Lock Out Lock-ins
Adam Daire, Wayne Goeke, and Mary Anne Tupta
Keithley Instruments, Inc.
Sensitive Measurement Needs
Researchers today must measure material and device characteristics that
involve very small currents and voltages. Examples include the measurement
of resistance and I-V characteristics of nanowires, nanotubes, semiconductors,
metals, superconductors, and insulating materials. In many of these