加速IC测试工具开发进程

　　在硅谷，EDA工具供应商非常活跃。每次Globalpress公司组织采访活动中，EDA都是重要环节。MentorGraphics公司设计到芯片(Design to Silicon)部门副总裁兼总经理Joseph Sawicki介绍了芯片测试的挑战。

　　随着IC制程节点从90nm向65nm和45nm延伸，需要测试的数据量会激增，相应地会带来测试成本的提高(图1)。例如，从90nm到65nm时，由于增加了门数，传统的测试量急剧增加;同时，在速(at-speed)测试也成倍增加，这是由于时序和信号完整性的敏感需求;到了45nm时代，在前两者的基础上，又新增了在新节点上探测新缺陷的测试。

　　图1 测试成本的驱动力