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EMI滤波器测试技术研究

作者: 时间:2009-02-11 来源:网络 收藏
随着科学技术和生产的发展,电子产品日益增多,从而空间电磁环境越发复杂,恶劣的电磁环境将会对人类及各种生物造成严重影响,另外电子产品间也可能互相产生干扰导致其不能正常工作,于是出现了EMC
在电子设备及电子产品中,电磁干扰能量可通过辐射性耦合或传导性耦合进行传输。在抑制电磁干扰信号的辐射干扰方面,屏蔽是有效的措施;在抑制电磁干扰信号的传导干扰方面,是十分有效的器件。由于是抑制传导干扰的重要器件,所以研究方法就变得十分重要。

l EMI滤波器的指标
1.1 共模干扰和差模干扰
实际上EMI电源滤波器起两种低通滤波器的作用:衰减共模干扰和衰减差模干扰。对任何电源线上的传导干扰信号,都可以用共模和差模干扰信号来表示。并且可把L―E和N―E之间的共模干扰信号、L―N之间的差模干扰信号看作独立的EMI源,把单相电源内的L―E、N―E和L―N看作独立网络端口来分析EMI信号和有关的滤波网络。图1中,U1和U2为共模干扰信号,U3为差模干扰信号。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/195969.htm

1.2 EMI滤波器网络结构
图2所示为单相电源滤波器的基本网络结构。它是由集中参数元件构成的无源低通网络,滤波网络主要由两只电感L1和L2,三只电容CX、CY1、CY2组成。如果把该滤波器一端接入电源,负载端接上被干扰设备,那么L1和CY1,L2和CY2就分别构成L―E和N―E两对独立端口间的低通滤波器,用来抑制电源线上存在的共模EMI信号。此外,L1、L2又与CX构成L―N独立端口之间的低通滤波器,抑制差模干扰信号。
1.3 EMI滤波器漏电流性能测试
泄漏电流是指在250VAC的电压下,相线和中线与滤波器外壳(地线)间流过的电流。它主要取决于接地电容(共模电容)的取值。较大的共模电容CY可以提高插入损耗,但却造成较大的漏电流。泄漏电流的测试电路如图3所示:

1.4 EMI滤波器耐压性能测试
为确保电源滤波器的性能以及设备和人身安全,必须进行耐压测试。耐压测试是在极端工作条件下的测试。若CX电容器的耐压性能欠佳,在出现峰值浪涌电压时,可能被击穿。它的击穿虽然不危及人身安全,但会使滤波器功能丧失或性能下降。CY电容器除了满足接地漏电流的要求外,还在电气和机械性能方面具有足够的安全余量,避免在极端恶劣的环境条件下出现击穿短路现象。故线一地之间的耐压性能对保护人身安全有重要意义,一旦设备或装置的绝缘保护措施失效,可能导致人员伤亡。
1.5 EMI滤波器的性能评定
EMI电源滤波器在使用时考虑最多的是额定电压及电流值、耐压性能、漏电流三项,而其中最主要的评定性能为滤波器的插入损耗性能。
EMI电源滤波器对干扰噪声的抑制能力用插入损耗I.L.(Insertion Loss)来衡量。插入损耗定义为:没有滤波器接入时,从噪声源传输到负载的功率P1和接入滤波器后,从噪声源传输到负载的功率P2之比,用dB(分贝)表示。


2 EMI滤波器的频域测试

测试标准的确定为电源EMI滤波器的各项指标提供了统一的衡定依据。其中最主要的测试项目为滤波器频域上的插入损耗测试
2.1 插入损耗的标准测试
在标准测量法中规定,在50Ω~75之间的任一阻值的系统内测试它的插入损耗特性。测试原理如图4所示。

实际测试时,常常利用屏蔽室来测试滤波器的插入损耗,测试图如图5所示。
2.2 插入损耗的加载测试
在EMI滤波器产品中,由于使用不合适的材料,共模扼流圈不可能保证完全对称会导致磁环的饱和,同时寄生差模电感也可能产生磁环的饱和,使得滤波器的实际使用情况与厂家提供数据有很大差距,因此必须对滤波器采用加载测试。

3 EMI滤波器的时域测试
一般地,对于EMI电源滤波器我们只关心它的常规性能及频域抑制性能。而对于EMI信号线滤波器,由于传输线本身就会产生一定的电磁干扰,所以测试信号必然会产生一定的衰减。这时,我们就要对其进行时域传输性能上的测试。
使用50kHz的方波对电容值为8000pF的滤波插针进行滤波,发现其时域的上升沿和下降沿有明显的变化。频域上,经过滤波后,方波信号的高频分量被滤除。


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