一种安全可控的SoC可测性设计 作者: 时间:2017-06-05 来源:网络 收藏 摘要:提出了一种安全可控的可测性设计DFT(Design For Test)。DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/201706/349244.htm关键词:可测性设计集成电路 微系统芯片一种安全可控的SoC可测性设计.pdf
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