IC测试常见问答

　　把DEVICE交给DA的结果无非就是确认电路某个坏点或者观察一下curve trace的图形。基于楼主的描述，基本上可以确定是这颗产品的问题，driving pattern和i/o的assignment应该不会有错，否则标准件不会过关。

　　如果要究其原因，我想大概要联系到半导体物理的内容了。电路参数的fluctuation造成的intermitent failure有可能是alpha粒子的轰击或者电路内部EMI(电磁辐射，如果片内有感性器件的话)所造成的，我想工程上是不需要涉及到这个LEVEL的。

　　目前的解决方法就是请DA出一个报告，主要是benchtest和curve trace的报告，观察在静态(无relay动作下)条件下ICC/VCC的曲线特征。做到这一步也就可以了。

　　测试稳定性关系到你本身产品的性能、测试方法、还有硬件(设备、Test Board)。

　　1、测试不稳定的参数是否仅有VOUT一项?(占空比，频率?VOUT其它电压条件的如何?)

　　2、寻找测试结果的分布规律，是否变动很大?还是总是偏大/偏小?

　　3、你的参数测试方法?使用哪些硬件资源，DUT外围器件如何?

　　不知道你使用的Test Board电路如何?

　　因为2576是开关电路，测试电路的EMI(电磁干扰)问题尤为重要。

　　- 输入、输出端的连线要尽量短

　　- 使用单点接地方式

　　- 是否使用的是肖特基二极管1N5822(或者快恢复二极管)。这点往往被工程师或略，常用1N4XXX等普通整流/开关管代替，这样会造成EMI增大，输出效率降低，是不稳定的一个祸因。

　　以前我处理过LM/MC34063，也是遇到测试稳定性差的问题。

　　看看你的pattern和电源滤波电容有没有问题

　　ICC应该让chip不停的run，那么你的pattern应该是loop的，如果loop的首尾连接不好就可能出现这样的问题

　　另外，测试仪也是个问题，你可以反复测试几个DUT，看看有什么规律没有Pin有没有I/O类型的，如果有外面结法是否应该检查一下内部有没有电容，charge pump一类的功耗元件

　　如果都不是，就要看看版图or加工了，是否内部有虚短的东西，这个比较难分析了

　　也就是TL431吧?3PIN(TO92/8SOP)Voltage Reference，我们生产过。你能肯定是测试还是FAB的问题?30ea是否为真的不良，有没有验证过?

　　查连线吧