通过先进的校准测试方法降低移动设备的成本

快速校准模式的实现

无论是移动设备还是OBT，高速校准采用特定的测试模式，来实现尽可能快的测试速度。有些OBT通过可视作为用来缩短OEM厂商测量时间的测量例程，提供了许多这类特定的测试模式。应注意的是这些工具是没有用的，除非在所用的芯片集中能够采用一个等效的模式。

一个多触发测量(图3)模式提供了在一个单信道上快速测量GSM移动设备的输出功率的方法，功率电平可以多达500个。该方法的一个优点是，对芯片集的修改较小。缺点是没有Tx/Rx并行测量，还需要多个序列，具体取决于被测的Tx信道数量。

图3：在单信道上实现GSM移动设备快速测量的多触发测量。

由于EDGE调制可能包括一个在GSM调制中所没有的幅度的较大变化，需要采用一个特定的校准技术来补偿这一变化。预失真测量可以实现这一校准，具体方法是校准设备中的功率放大器的相位与功率的关系。

第一种的预失真测量是当输入功率按方波变化时测量功率和相位。图4所示即为该类测量，该测量中采用了500个相邻的测试周期，周期长度从200μs到4.6ms之间可调。

图4：输入功率以方波变化时测量功率和相位的预失真测量。

第二种预失真测量是在输入功率按三角波形时变化时测量功率和相位。图5中，测量在8192个点上进行，采样率为1.625MHz。该方法在阶段的时间内提供了更多的数据，相对于第一种预失真测量，在芯片集上实现的难度可能会大一些。

图5：输入功率以三角波形时变化时测量功率和相位的预失真测量。