基于LabVIEW的三极管寿命测试系统

元件/连接器 时间:2015-03-06 来源:网络

  4实验结果

  在环境温度为25℃,温升为80℃,加热恒流源设置为50 mA,恒压源设置为5 V,开时间设置为2 300 s,关时间设置为7700 s,定时模式下,每隔50 ms采样得到结温图,如图9,结束时刻温度由于周围温度升高,基本很难达到初始的25℃,但是在温度降低到了误差允许范围内。图中,红线由NMOS管背部贴的传感器测量得出的温度变化数据绘出,黑线由采集回来的数据通过结温计算公式计算出的数据描绘出来的,对比下,传感器测出数据的变化趋势和计算结果数据变化保持一致,这就说明了测量结果准确。

  图9 温度曲线

  5结束语

  文中介绍了一个在sbRIO-9612上,用LabVIEW实现控制一个老化测试系统工作,该系统达到了预订采集数据精度和分辨率,满足了快速采集和快速控制等要求,在实际应用中,达到了很好的效果,具有很高的实用价值。

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关键词:LabVIEW三极管

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