使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试

我们已使用 PXI Express自动测试系统完成多个项目，并获得非常满意的效果。自动测试系统大大减少了芯片测试的时间，而其快速、准确的直流测试更是实验室的宝贵财富。
使用PXI模块化仪 器完成超低功耗 ASIC设计的结构 和内存测试

"我们已使用 PXI Express自动 测试系统完成多个项
目，并获得非常满意 的效果。自动测试系 统大大减少了芯片测
试的时间，而其快 速、准确的直流测试 更是实验室的宝贵财 富。"
- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec


The Challenge:
创建灵活的测试系统 用于自动验证和表征 新的超低功耗半导体 芯片设计。


The Solution:
使用NI LabVIEW软件 和NI PXI Express高速 数字I/O设备开发 自动测试系统，前者 读取测试向量，后者 产生和接收数字数