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kla-tencor
KLA-Tencor宣布安装处理450mm硅片的Surfscan®SP3系统
EDA/PCB
KLA-Tencor
Surfscan
硅片
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2012-07-12
晶圆代工厂先进制程投资助力设备厂商业绩前行
EDA/PCB
KLA-Tencor
晶圆代工
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2011-11-03
VLSI Research公布第三季度半导体设备厂商前十名单
EDA/PCB
KLA-Tencor
半导体设备
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2010-12-16
KLA-Tencor以创新把握经济复苏机遇
EDA/PCB
KLA-Tencor
封测
高K金属栅
3D晶体管
200910
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2009-10-13
KLA-Tencor再度裁员10%
元件/连接器
KLA-Tencor
晶圆
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2009-04-01
KLA-TENCOR 推出用于测量等离子室效应的 PLASMAVOLT X2
测试测量
KLA-TENCOR
PLASMAVOLT
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2008-10-21
KLA-TENCOR 推出 PROLITHTM 12 新版计算光刻工具
EDA/PCB
KLA-TENCOR
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2008-10-13
科天推出磁盘驱动器基片和盘片缺陷检查的新技术
网络与存储
硬盘
驱动器
KLA-Tencor
科天
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2008-09-25
KLA-TENCOR 推出全新控片检测系统 SURFSCAN SP2XP
EDA/PCB
集成电路
IC
控片检测系统
KLA-Tencor
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2008-09-08
KLA-TENCOR推出新型 P-6 表面轮廓仪系统
电源与新能源
KLA-Tencor
表面轮廓仪
光电太阳能
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2008-07-17
KLA-Tencor推出可解决二次成像挑战的首款计算光刻机
模拟技术
KLA-Tencor
光刻机
二次成像光刻
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2008-07-11
KLA-Tencor 推出第十代电子束侦测系统
测试测量
KLA-Tencor
电子束
侦测
半导体
微电子
|
2008-07-09
突破性的 KLA-Tencor 技术--通过识别可印刷缺陷实现高等级光罩检测
测试测量
KLA-Tencor
光罩检测
32 纳米
|
2008-04-25
KLA-Tencor 为晶片厂推出光罩检查系统的全新 TeraFab 系列
物联网与传感器
KLA-Tencor
|
2008-03-15
KLA-Tencor 新推出的 Aleris 8500 薄膜度量系统
测试测量
KLA-Tencor
度量系统
芯片
测量工具
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2008-01-04
KLA-Tencor新推出Aleris 8500薄膜度量系统
测试测量
KLA-Tencor
Aleris
芯片
测量工具
|
2007-12-26
KLA-Tencor推出达到关键性45nm晶片几何度量要求的完整度量解决方案
测试测量
测试
测量
KLA-Tencor
半导体
晶片
MCU和嵌入式微处理器
|
2007-12-17
KLA-Tencor发布全新SURFmonitor系统
模拟技术
嵌入式系统
单片机
KLA-Tencor
SURFmonitor
嵌入式
|
2007-07-13
KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350
测试测量
测试
测量
KLA-Tencor
表面轮廓测量系统
HRP-350
测试测量
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2007-07-11
KLA-Tencor推出新一代电子束缺陷再检查和分类系统
测试测量
KLA-Tencor
测量
测试
电子束
工业控制
工业控制
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2007-07-06
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