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Imec发布EUV掩膜缺陷评估方面的成果

作者: 时间:2011-04-20 来源:Imec 收藏

联合合作伙伴发布两份评估结果,结果显示EUV供应商须在检测掩膜缺陷能力方面进行改善。并与Zeiss SMS合作通过实验演示了一项消除缺陷的补偿技术。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/118835.htm


关键词:ImecEUV掩膜

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